1.背景介绍
电子半导体行业近几年发展特别快, 随之而来的是生产过程中产生了大量的有毒有害废水,包括酸碱废水、含氟废水、金属废水、有机废水、氰化物废水等,这些废水必须经过处理达标后才能排放。 目前, 电子半导体行业没有针对性的污染物排放标准发布, 其执行的标准仍为 《污染物综合排放标准》,但是,电子半导体企业对废水排放有严格的内控指标。电子半导体企业除了监控 COD、氨氮等常规指标外,也非常重视砷、铅等一类重金属污染物的排放量。
厦门某电子公司于 2015 年采购了一台 XOS 总砷分析仪,用于排口废水总砷监测,测试数据通过 MODBUS 通讯(仪表自带 RS485 接口)传输至 PLC,实时上传至当地环保局。仪表从企业正常生产后开始运行,连续运行两个多月无需维护,测量数据稳定,用户反馈较好。
2.应用情况
主要仪器: XOS 总砷分析仪、 CYQ 预处理器。
下图为现场安装图。仪表初次安装不需要校准,为检查仪表的测量准确性,配制了 0.4 mg/L 的标液,使用仪表自带的标样核查功能, 测量结果为 0.399 mg/L。XOS 总砷分析仪与 CYQ 预处理器联动,按设定时间定时抽取水样进行分析。 CYQ 预处理器的作用是自清洗进样管路和提供连续的流速稳定的水样,确保仪表正常运行,减少维护量。
为保证测量准确性,仪表每天设置 1 次背景修正,以去除悬浮物附着在膜片上对测量结果的影响。安装后连续测量两个多月,测量数据稳定在 0.15~0.30 mg/L 之间,满足 0.5mg/L 的排放要求。运行期间无需人为维护,仪器表现出较好的测量稳定性,与实验室测量结果比对一致性较好,用户较为满意。
3.总结
( 1) XOS 总砷分析仪采用单色波长色散 X 射线荧光法,运行期间不需使用任何化学试剂,不受悬浮物、色度及其他金属离子干扰,测量稳定性较好,维护量极低,可满足电子半导体废水的在线监测要求。
( 2) XOS 总砷分析仪初次安装无需校准,校准周期为 3‐6 个月;与动力窗模块配套使用时,可大大降低维护量,最大限度降低维护成本。
( 3) XOS 重金属已获得环保认证,可用于废水排口总砷、总铅监测。